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飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜 二次離子質(zhì)譜儀 詳細(xì)摘要: 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)??梢詮V泛應(yīng)用于物理,化學(xué),微電子,生物,制藥,空間分析等工業(yè)和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面,薄膜,界...
產(chǎn)品型號(hào): 所在地:上海市 更新時(shí)間:2022-09-30 參考價(jià): 面議 在線留言
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